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镀层测厚仪PosiTest G/GM
京公网安备11010802041516号
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美国Defelsko公司研制的PosiTest G/GM镀层测厚仪可用于电镀, 薄漆膜, 钢铁上磷化膜的测量.
--美国Defelsko PosiTest G/GM镀层测厚仪带可溯源至美国IST的校准证明
--每个美国Defelsko PosiTest G/GM镀层测厚仪均可与校验标准和程序匹配
--高耐磨硬质合金探头利于使用寿命的尽可能优化和保证优良精度的持久性
--刻度盘的可调中心使校正调整变得简单方便
--符合国际和国内测试标准
--特别的纹理外壳, 无惧机械冲击, 水, 酸或溶剂
--独特整体设计,充分支承, 强制定位,测量过程中无旋转移动可能
--选择充分支承测量或仅使用前测量臂的探头接触涂层测量均可
--稀土钴磁钢的持久磁性, 无需电池
--防爆，绝对的安全性
--1年保证
--设有直观提示和声音提示, 提醒测量完毕
--“V” 形槽的探头外壳设计和独特的仪器机座, 便于在圆柱形样品上的定位和测量
--精凑, 轻便, 精确的平衡性, 不受地心吸力(重力)影响，可在任何地方使用
--GO/O-GO(启动/禁动) 按钮可预设以备快速测量
--探头放置和转盘旋转仅需一指操作
--附带的腕带和说明书置于高质皮革盒内备用
| PosiTestGM镀层测厚仪 | PosiTestG镀层测厚仪 | |
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| 镀层测厚仪测量范围 | 0~8mils | 0~200µm |
| 读数精度 | 0.04mils （0.8mils以内） ±5%的读数 （超过0.8mils时） | ± 1µm （20µm以内） ±5%的读数 （超过20µm时） |
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